Научная Библиотека Пермского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Базы данных

Труды учёных ПГНИУ - результаты поиска

Вид поиска

Основная библиотечная БД

Труды учёных ПГНИУ

Диссертации

Журналы

Рациональное природопользование

Иностранная периодика

Дореволюционная периодика

Библиотека юридичеcкого факультета (статьи)

Туризм

История Пермского университета

Продолжающиеся издания

Музейный книжный фонд

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЬ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

    Сосунов, А. В.
    Evaluation of applicability of lithium niobate crystals Z-CUT with predetermined impurity distribution for manufacturing of Proton-Exchanged waveguides / А. В. Сосунов, С. С. Мушинский [и др.] // Вестник Перм. ун-та. Сер. Физика. - 2017. - № 2(36). - С. 69-73

УДК

535

Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
ЛИТИЯ НИОБАТ -- НИОБАТ ЛИТИЯ -- ВОЛНОВОД -- ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЬ
Аннотация: Методами оптической, лазерной и электронной микроскопии проведен сравнительный анализ структурных особенностей приповерхностных слоёв монокристаллических пластин ниобата лития с заданным распределением примесей производства Кубанского госунивер-ситета и Crystal Technology (США). Методом модовой спектроскопии сделан сравнительный анализ характеристик (приращение показателя преломления и глубина) планарных протоно-обменных волноводов. Показано, что состояние приповерхностных слоёв исследуемых мо-нокристаллических пластин ниобата лития с заданным распределением примесей по его длине существенно отличается от качества пластин производства Crystal Technology. Иссле-дуемые образцы ниобата лития с заданным распределением примесей по его длине содержат множество царапин и точек на поверхности, а также дефектный приповерхностный слой глубиной 15 мкм, что значительно уступает характеристикам образцов производства Crystal Technology. Однако характеристики сформированных планарных протонообменных волно-водов на кристаллах обоих производителей по своим значениям очень близки друг к другу, что дает возможность применения указанных кристаллов при производстве интегрально-оптических схем при условии повышении качества обработки их поверхности.

Доп.точки доступа:
Мушинский, С. С.; Пономарев, Р. С.; Волынцев, А. Б.; Галуцкий, В. В.; Шмаргилов, С. А.

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 16.07.2024
Число запросов	36611
Число посетителей	675
Число заказов	1

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)