621.38 М 641 Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Нижегородский институт физики микроструктур. - Москва : Техносфера, 2005. - 144 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 145.00 р., 145.00 р.
Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (СКАНЕРЫ) -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Доп.точки доступа: Российская академия наук; Нижегородский институт физики микроструктур Экземпляры всего: 10 Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (8) Свободны: Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (8) |
539 К 260 Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214 с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214. - ISBN 978-5-91910-342-4 : 190 р.
Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия -- нейтронография -- электронография -- растровая электронная микроскопия -- оптика пучков частиц -- рентгеноструктурный анализ -- микроскопия зондовая -- зондовая микроскопия -- физика конденсированного состояния Доп.точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович Экземпляры всего: 1 АБУ (1) Свободны: АБУ (1) |
62 Н 254 Нанотехнологии в микроэлектронике : научное издание / Юж. федер. ун-т, Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения ; ред.: О. А. Агеев, Б. Г. Коноплева. - Москва : Наука, 2019. - 511 с. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-02-040201-0 : 613.20 р.
Кл.слова (ненормированные): Микроэлектроника -- нанотехнологии в микрорэлектронике -- нанотрубки -- нанодиагностика -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- микроскопия зондовая -- нанолитография зондовая -- ионные пучки -- электронно-лучевая обработка Доп.точки доступа: Агеев, О. А. \ред.\; Коноплева, Б. Г. \ред.\; Южный федеральный университет; Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Экземпляры всего: 1 АБН (1) Свободны: АБН (1) |
Шеин, Анатолий Борисович. Физические методы исследования. Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия [Электронный ресурс] : учебное пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров «Химия», «Химия, физика и механика материалов» и по специальности «Фундаментальная и прикладная химия» / А. Б. Шеин, А. Л. Габов ; М-во науки и высш. образования РФ, Перм. гос. нац. исслед. ун-т. - Электрон. дан. (6,23 Мб). - Пермь : ПГНИУ, 2023. - 168 с. - Библиогр.: с. 165-167. - ISBN 978-5-7944-4034-8 : 0.00
Кл.слова (ненормированные): МЕТАЛЛОГРАФИЯ -- МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ (ИССЛЕДОВАНИЯ) Перейти: Полный текст Доп.точки доступа: Габов, Андрей Львович; Министерство науки и высшего образования Российской ФедерацииПермский государственный национальный исследовательский университет Свободных экз. нет |