62 С 741 Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3 т. / Моск. гос. ин-т электрон. техники, Технолог. центр ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под ред. А. Н. Саурова. - [2-е изд., доп.]. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-261-8. Т. 2. - 2010. - 1039 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI.30). - Библиогр. в конце глав. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. 2) : 1100 р.
Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- АСМ/ЛСМ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- НАНОТРИБОЛОГИЯ -- НАНОМЕХАНИКА -- НАНОИНДЕНТЕР -- НАНОРЕОЛОГИЯ -- АДГЕЗИЯ Доп.точки доступа: Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А. Н. \ред., пер.\; Московский государственный институт электронной техники. Технологический центр Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |
535 О-720 Осадько, Игорь Сергеевич. Флуктуирующая флуоресценция наночастиц / И. С. Осадько. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2011. - 315, [1] с. : рис. ; 22 см. - Авт. на корешке не указан. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1339-7 (в пер.) : 300 р.
Флуоресценция флуктуирующая--Полупроводниковые наноструктуры Кл.слова (ненормированные): ФЛУОРЕСЦЕНЦИЯ ОДИНОЧНЫХ НАНОЧАСТИЦ -- ФЛУОРЕСЦЕНЦИЯ МОЛЕКУЛ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ФОТОНЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ НАНОКРИСТАЛЛЫ -- НАНОКРИСТАЛЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВ Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |
62 С 741 Справочник по микроскопии для нанотехнологии / [Моск. гос. ун-т. Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям] ; под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван: науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Handbook of Microscopy for Nanotechnology. - 2005. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 2000 р.
Кл.слова (ненормированные): ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ -- АТОМНО-ЗОНДОВАЯ ТОМОГРАФИЯ -- ФОКУСИРОВАННЫЙ ИОННЫЙ ПУЧОК -- ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ ЛИТОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ НАНОКРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ГОЛОГРАФИЯ Доп.точки доступа: Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Московский государственный университет. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |
539 К 260 Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214 с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214. - ISBN 978-5-91910-342-4 : 190 р.
Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия -- нейтронография -- электронография -- растровая электронная микроскопия -- оптика пучков частиц -- рентгеноструктурный анализ -- микроскопия зондовая -- зондовая микроскопия -- физика конденсированного состояния Доп.точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович Экземпляры всего: 1 АБУ (1) Свободны: АБУ (1) |
26894 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [Текст] / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века. Перейти: Перейти к просмотру издания Свободных экз. нет |
29567 Свириденок, А. И. Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И. - Минск : Белорусская наука, 2014. - 188 с. - ISBN 978-985-08-1775-4 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования. Перейти: Перейти к просмотру издания Доп.точки доступа: Суханова, Т. Е.; Вылегжанина, М. Э.; Сантурян, Ю. Г.; Волков, А. Я.; Кутин, А. А.; Гофман, И. В.; Панарин, Е. Ф.; Толстихина, А. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Белугина, Н. В.; Трушин, О. С.; Куприянов, А. В.; Амиров, И. И.; Dzieciol, A.; Stelmachowski, J.; Nazaruk, P.; Rymuza, Z.; Abetkovskaia, S.; Pogotskaya, I.; Chizhik, S. A.; Баран, Л. В.; Ануфрик, С. С.; Игнатовский, М. И.; Сазонко, Г. Г.; Тарковский, В. В.; Кузнецова, Т. А.; Чижик, С. А.; Кравчук, А. С.; Ширяева, Т. И.; Судиловская, К. А.; Муравьева, Т. И.; Столярова, О. О.; Сачек, Б. Я.; Мезрин, А. М.; Загорский, Д. Л.; Сильванович, Д. А.; Ташлыков, И. С.; Белов, Н. А.; Ташлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Куликаускас, В. С.; Барайшук, С. М.; Шепелевич, В. Г.; Чумаков, А. С.; Горбачев, И. А.; Ермаков, А. В.; Ким, В. П.; Глуховской, Е. Г.; Башкиров, С. А.; Vylegzhanina, M. E.; Sukhanova, T. E.; Volkov, A. Ya.; Subbotina, L. I.; Svetlichnyi, V. M.; Губанова, Г. Н.; Кононова, С. В.; Лаврентьев, В. К.; Красковский, А. Н.; Гилевская, К. С.; Скопцов, Е. А.; Грачева, Е. А.; Куликовская, В. И.; Binhussain, M. A. A.; Мельникова, Г. Б.; Парибок, И. В.; Агабеков, В. Е.; Потапов, А. Л.; Иванова, Н. А.; Дайнеко, О. А.; Бен-Хусаин, М.; Карев, Б. Д.; Карев, Д. Б.; Константинова, Е. Э.; Цапаева, Н. Л.; Дрозд, Е. С.; Кужель, Н. С.; Мычко, М. Е.; Спиридонова, О. С.; Kukharenko, L. V.; Schimmel, Th.; Fuchs, H.; Barczewski, M.; Shman, T. V.; Tarasova, A. V.; Никитина, И. А.; Стародубцева, М. Н.; Грицук, А. И.; Стародубцев, И. Е.; Егоренков, Н. И.; Абетковская, С. О.; Лактюшина, Т. В.; Чикунов, В. В.; Билоконь, С. А.; Бондаренко, М. А.; Андриенко, В. А.; Бондаренко, Ю. Ю.; Яценко, И. В.; Брич, М. А.; Айзикович, С. М.; Кренев, Л. И.; Ханукаева, Д. Ю.; Калинин, С. В.; Филиппов, А. Н.; Иевлев, А. В.; Бузилов, А. С. Свободных экз. нет |