1544196 Гирфанова, Ф. М. Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методами атомно-силовой микроскопии : автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.14, 01.04.07 / Ф. М. Гирфанова ; Башк. гос. ун-т. - Уфа, 2008. - 24 с. Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ СОСТОЯНИЙ -- ЖИДКИЕ СРЕДЫ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- ФАЗОВЫЕ СОСТОЯНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК -- ЖИДКИЕ КРИСТАЛЛЫ -- СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ -- НАНОРАЗМЕРЫ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ИНДИКАТОРЫ -- ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |