62 С 741 Справочник по микроскопии для нанотехнологии / [Моск. гос. ун-т. Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям] ; под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван: науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Handbook of Microscopy for Nanotechnology. - 2005. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 2000 р.
Кл.слова (ненормированные): ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ -- АТОМНО-ЗОНДОВАЯ ТОМОГРАФИЯ -- ФОКУСИРОВАННЫЙ ИОННЫЙ ПУЧОК -- ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ ЛИТОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ НАНОКРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ГОЛОГРАФИЯ Доп.точки доступа: Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Московский государственный университет. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |