Главная Упрощенный режим

Базы данных


Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Поверхность -- Физико-химические исследования -- Анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   539
   Ф 374


    Фелдман, Леонард.
    Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. : ил. - Предм. указ.: с. 333-336. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundomentals of surface and thin film analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Тонкие пленки--Физико-химические исследования--Анализ
   Поверхность--Физико-химические исследования--Анализ

Кл.слова (ненормированные):
Пленки тонкие -- Поверхностные слои


Доп.точки доступа:
Майер, Джеймс; Аркадьев, В.А. \пер.\; Огнев, Л.И. \пер.\; Белошицкий, В.В. \ред. пер.\; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
 
Статистика
за 08.07.2024
Число запросов 34541
Число посетителей 503
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)