Научная Библиотека Пермского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Базы данных

Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Основная библиотечная БД

Труды учёных ПГНИУ

Диссертации

Журналы

Рациональное природопользование

Иностранная периодика

Дореволюционная периодика

Библиотека юридичеcкого факультета (статьи)

Туризм

История Пермского университета

Продолжающиеся издания

Музейный книжный фонд

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=Электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 18

   537
   С 716

    Спенс, Джон.
    Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения : пер. с англ. / Д. Спенс ; под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Наука, 1986. - 320 с., [1] л. ил. : ил. - Библиогр.: с. 313-320. - Пер. изд. : Experimental high-resolution ebectron microscopy / John C. H. Spense. - Oxford, 1981. - 3.70 р., 3.70 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ВОЛНОВАЯ ОПТИКА -- КОГЕРЕНТНОСТЬ

Доп.точки доступа:
Рожанский, В. Н. \ред.\; Spense, John C. H.
Экземпляры всего: 2
Х (1), АБН (1)
Свободны: Х (1), АБН (1)
Найти похожие

   537
   В 852


    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, 12-я. Сумы. 1982 : тезисы докладов / АН СССР, Институт кристаллографии. - Москва : Наука , 1982. - 352 с. - 1.70 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Институт кристаллографии
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   Д 957

    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов ; АН УССР, Ин-т физики. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с. 190-196. - ISBN 5-12-002339-8 : 3.90 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- ЭЛЕКТРОНИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- магнитное поле

Доп.точки доступа:
Непийко, Сергей Алексеевич; Седов, Николай Николаевич; АН УССР; Институт физики (Киев)
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   П 324

    Пилянкевич, Александр Николаевич.
    Просвечивающая электронная микроскопия / А. Н. Пилянкевич ; Ин-т проблем материаловедения. - Киев : Наукова думка, 1975. - 219 с. : ил. - (Наука и технический прогресс). - Библиогр.:с.209-217. - 1.70 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа:
Институт проблем материаловедения (Киев)
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   П 692


    Практическая растровая электронная микроскопия / [Дж. Гоулдстейн, Х. Яковиц, Д. Ньюбэри и др.]; под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица; пер. с англ. под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1978. - 656 с. : ил. - Библиогр.: с. 615-642 и в конце глав. - Имен. и предм. указ.: с. 643-650. - Пер. изд. : Practical scanning electron microscopy. - 4.70 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ -- ХИМИЯ -- БИОЛОГИЯ -- ФИЗИКА

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Яковиц, Х.; Ньюбэри, Д.; Петров, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   С 190

    Сапарин, Геннадий Васильевич.
    Введение в растровую электронную микроскопию / Г. В. Сапарин. - Москва : Издательство МГУ, 1990. - 127, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 126 (14 назв.). - ISBN 5-211-00625-9 : 00.20 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   С 190

    Сапарин, Геннадий Васильевич.
    Введение в растровую электронную микроскопию / Г. В. Сапарин ; МГУ им. М. В. Ломоносова. - Москва : Издательство МГУ, 1988. - 90 с. : ил. - (Физика). - Библиогр.: с. 89 (10 назв.). - ISBN 5-211-00625-9 : 00.15 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
МГУ им. М. В. Ломоносова
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   С 568


    Современная электронная микроскопия в исследовании вещества : сборник статей. - Москва : Наука , 1982. - 284 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 2.10 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Перейти: КК,
Перейти: КК
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   537
   С 829

    Стоянова, Инна Григорьевна.
    Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии / И. Г. Стоянова, И. Ф. Анаскин. - Москва : Наука , 1972. - 371 с. : ил. - Библиогр.: с. 357 - 363 (281 назв.). - 1.70 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия (физические основы)

Доп.точки доступа:
Анаскин, И. Ф.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

10.

   537
   Х 358

    Хейденрайх, Р.
    Основы просвечивающей электронной микроскопии / Р. Хейденрайх ; пер. с англ. [и предисл.] В. М. Кардонского и А. Г. Хачатуряна. - Москва : Мир, 1966. - 471 с. : рис., табл., фот. - Библиогр.: с. 466-468. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamentals of transmission electron microscopy / Robert D. Heidenreich. - New York, 1964. - 2.11 р.
    Содержание:
Идеальные, или гауссовы, изображения
Численные значения сечений рассеяния
Исследование тонких структур с деталями крупнее 10 A
Волны и интерференция
Волновая механика и формирование изображения
Коллективное возбуждение и энергетические потери в твердых телах
Введение в дифракцию электронов
Интенсивность дифракции
Дифракционный контраст
Качество изображения и разрешение
Изображения отклоняющих полей
Электронно-зондовый микроанализ
Общие функции для интерференционных расчетов
Аберрация линз и фаза дефокусировки
Элементы кристаллографии
пример из динамической трехволновой теории
Определение вектора Бюргерса
Дифракционные эффекты в толстых кристаллах
Преимущественные ориентировки (текстуры)

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Кардонский, В. М. \пер.\; Хачатурян, А. Г. \пер.\; Heidenreich, Robert D.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

11.

   537
   Х 709

    Хокс, Питер.
    Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина и А .М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. - Москва : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 00.05 р.
    Содержание:
Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп
Электронные линзы
Электронный микроскоп
Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей
Применения

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия -- электронная оптика

Доп.точки доступа:
Hawkes, P. W.; Стоянова, И. Г. \ред.\; Анаскин, И. Ф. \пер.\; Розенфельд, А. М. \пер.\; Hawkes, P. W.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

12.

   537
   Ш 615

    Шиммель, Г..
    Методика электронной микроскопии : Elektronenmikroskopische Methodik : пер. с нем. / Г. Шиммель, G. Schimmel ; пер.: А. М. Розенфельд, М. Н. Спасский ; ред. В. Н. Рожанский. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Библиогр.: с. 285 - 292. - Указ.:с.293-297. - 1.62 р., 1.62 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа:
Schimmel, G.; Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, М. Н. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред.\
Экземпляры всего: 2
Х (1), АБН (1)
Свободны: Х (1), АБН (1)
Найти похожие

13.

   537
   Э 455


    Электронная микроскопия твердых тел и биологических объектов. Приборы, методы исследования, результаты применения. Материалы Шестой Всесоюзной конференции по электронной микроскопии. Новосибирск, июль 1967 год / АН СССР ; ред. Б. К. Вайнштейн. - Москва : Наука , 1969. - 375 с. : ил. - Имен. указ.: с. 369 -373. - 2.28 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Дескрипторы: Электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Вайнштейн, Б. К. \ред.\; Академия наук СССР
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

14.

   537
   Э 455


    Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш [и др.] ; ред. Л. М. Утевский. - Москва : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 562-568. - 2.44 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- электроника -- кристаллография -- кинематика -- динамические теории -- применение -- дифракция -- кристаллы -- электроны -- анализ -- теория

Доп.точки доступа:
Хирш, П.; Хови, А.; Николсон, Р.; Пэшли, Д.; Уэлан, М.; Утевский, Л. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

15.

   537
   Э 455


    Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справочное руководство / под ред. В. М. Косевича и Л. С. Палатника. - Москва : Наука, 1976. - 223 с. : фот. - Библиогр.: с. 155 - 160 (147 назв.). - 6000 экз. - 1.12 р.
    Содержание:
Вопросы методики расчета дифракционного контраста
Изображение единичных дислокаций
Изображение групп дислокаций
Дислокационные сетки
Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах
Особые дислокационные конфигурации
Дислокационные петли
Изображение дефектов упаковки
Частичные дислокации
Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
кристаллы (электронная микроскопия)

Доп.точки доступа:
Косевич, Вадим Маркович \ред.\; Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

16.

   537
   Э 648

    Эндрюс, К.
    Электронограммы и их интерпретация : пер. с англ. / К. Эндрюс ; ред. Л. Г. Орлов. - Москва : Мир , 1971. - 256 с. : ил., табл. - 2.00 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35

Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Орлов, Л. Г. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

17.

   539
   И 982

    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества [Текст] : монография / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 616 с. : ил. ; 25 см. - Предм. указ.: с. 611-614. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1447-9 (в пер.) : 600 р.

ГРНТИ	29.19
УДК	539.27^V3	537.533

Рубрики: Дифракция--Электронов в кристаллах
   Дифракция--Электронов в газах
   Электронография газовая
   Электронная микроскопия
   Физика твёрдого тела --Структурный анализ твёрдых тел --Элекронография--Дифракция электронов в кристаллах
   Прикладная математика--Математическое программирование--Математическая кибернетика
Кл.слова (ненормированные):
Электроны (дифракция) -- Электронография -- фотоэлектроника -- электронная кристаллография -- молеклы свободные (структурная динамика) -- электронная томография 4D -- электронная микроскопия
Аннотация: Представлены современные достижения в теории и эксперименте метода дифракции электронов в 4D пространственно-временном континууме. Даны основы классической газовой электронографии, в том числе высокотемпературной, на основе понятия поверхности потенциальной энергии. Введение развертки во времени в дифракционные методы с использованием пикосекундных и фемтосекундных электронных диагностирующих импульсов, синхронизированных с импульсами возбуждающего лазерного возбуждения, позволило разработать методы сверхбыстрой электронной кристаллографии, дифракции рентгеновских лучей с временным разрешением и динамической просвечивающей электронной микроскопии, томографии молекулярного состояния. Становится возможной визуализация переходных процессов при фотовозбуждении свободных молекул и биологических объектов, анализ процессов на поверхности и в наноструктурах. Для широкого круга читателей, студентов, аспирантов, научных работников, интересующихся проблемами структуры и динамики наноматериалов, строением вещества.

Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич; Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

18.

   537
   С 302

    Семенова, Оксана Рифовна.
    Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия : учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника" / О. Р. Семенова ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Пермский государственный национальный исследовательский университет. - Пермь : [б. и.], 2021. - 132 с. - Библиогр.: с. 127-128. - ISBN 978-5-7944-3637-2 : 1.00 р.

ГРНТИ	29
УДК	537.533.35	621.385.833.2](075.8)

Рубрики: Электронная микроскопия--Учебники для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопиясканирующий электронный микроскоп -- электронная микроскопия просвечивающаяся -- просвечивающий электронный микроскоп

Доп.точки доступа:
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации; Пермский государственный национальный исследовательский университет
Экземпляры всего: 1
АБУ (1)
Свободны: АБУ (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 09.07.2024
Число запросов	387
Число посетителей	161
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)