Главная Упрощенный режим

Базы данных


Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Микроэлектронные схемы интегральные.надежность<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.
621.38
С 95


    Сыноров, Владимир Федорович.
    Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем [Текст] / Владимир Федорович Сыноров, Римма Петровна Пивоварова. - Воронеж : Изд-во Воронеж.ун-та, 1983. - 152с. : ил. - Библиогр.:с.149-151. - 1.20 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность


Доп.точки доступа:
Пивоварова, Римма Петровна
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
2.
621.38
Е 91


    Ефимов, Иван Ефимович.
    Надежность твердых интегральных схем [Текст] / Иван Ефимович Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. - 2-е изд.,испр.и доп. - М. : Изд-во стандартов, 1979. - 216с. : ил. - Библиогр.:с.210-215. - 95 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность -- Микроэлектронные схемы интегральные твердые


Доп.точки доступа:
Кальман, И. Г.; Мартынов, В. И.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
3.
621.38
С14


    Садчиков, Павел Иванович.
    Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели/П.И.Садчиков; Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники/В.А.Абрамов [Текст] : в помощь слушателям семинара по надежности и прогрессив.методам контроля качества продукции / Павел Иванович Садчиков. - М. : Знание, 1979. - 110с. - 30 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.качество -- Микроэлектронные схемы интегральные.надежность

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
4.
621.38
С14


    Садчиков, П. И.
    Системный анализ причин отказов интегральных схем и методика оценки их надежности на основе физико-математической модели [Текст] : материалы лекций,прочитанных в Политехн.музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции / П. И. Садчиков. - М. : Знание, 1976. - 52с. - 13 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
5.
621.38
М54


   
    Методы и средства прогнозирования надежности интегральных схем [Текст] : сб.ст. / АН ЛатвССР,Ин-т электроники и вычисл.техники;Редкол.:Е.Я.Финкельштейн и др. - Рига : Зинатне, 1979. - 104с. : ил. - Библиогр.в конце ст. - 40 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
6.
621.38
Н17


   
    Надежность микроэлектронных схем и элементов [Текст] : материалы всесоюз.семинара,Киев,нояб.1983г. / АН УССР,Ин-т полупроводников;Отв.ред.В.Г.Литовченко. - Киев : Наук.думка, 1985. - 127с. : ил. - Библиогр.в конце докл. - 1.20 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
7.
621.38
Ф 50


   
    Физические основы надежности интегральных схем [Текст] / Под ред.Ю.Г.Миллера. - М. : Сов.радио, 1976. - 319с. - 1.13 р.
УДК
РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронные схемы интегральные.надежность

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
 
Статистика
за 05.07.2024
Число запросов 44783
Число посетителей 434
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)