Главная Упрощенный режим

Базы данных


Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=наногетероструктура<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
13944

    Смирнов, С. В.
    Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем [Электронный ресурс] : учебное пособие / Смирнов С. В. - Томск : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2010. - 115 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
интегральная схема -- наногетероструктура -- технологический процесс -- учебное пособие
Аннотация: Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное использование нескольких методов позволяет получить достоверную информацию о физических свойствах исследуемых структур. Для слушателей программы переподготовки в области промышленного производства наногетероструктурных монолитных интегральных схем СВЧ-диапазона и дискретных полупроводниковых приборов, а также для студентов специальностей 210104 «Микроэлектроника и твердотельная электроника» и 210600 «Нанотехнология».

Перейти: Перейти к просмотру издания
Свободных экз. нет
Найти похожие
 
Статистика
за 03.06.2024
Число запросов 18843
Число посетителей 1165
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)