Научная Библиотека Пермского Государственного Университета

   621.38
   Р 944

    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учебное пособие / С. А. Рыков ; ред.: В. И. Ильин, А. Я. Шик. - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4 : 25.00 р., 25.00 р.

47.13.11
УДК	621.385.833(075.8)

Рубрики: Электронные микроскопы--Микроскопия электронная--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
Сканирование -- Микроскопы -- Полупроводниковые материалы

Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\; Шик, А. Я. \ред.\
Экземпляры всего: 3
Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (1)
Свободны: Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (1)
Найти похожие

577
С 423

Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров : [Учеб.пособие] / Под ред.И.В.Яминского. - М. : Науч.мир, 1997. - 88с. - (Сканирующая зондовая микроскопия. Вып.1). - ISBN 5-89176-031-2 : 30 р.

УДК

577.32(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
Учебное пособие -- Биополимеры.микроскопия

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   621.38
   М 641

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Нижегородский институт физики микроструктур. - Москва : Техносфера, 2005. - 144 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 145.00 р., 145.00 р.

29.35.43
УДК	621.385.833	537.533.35](075.8)

Рубрики: Электроника--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (СКАНЕРЫ) -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Нижегородский институт физики микроструктур
Экземпляры всего: 10
Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (8)
Свободны: Х (1), ЧЗЕ (1), АБУ (8)
Найти похожие

   1544196


    Гирфанова, Ф. М.
    Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методами атомно-силовой микроскопии : автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.14, 01.04.07 / Ф. М. Гирфанова ; Башк. гос. ун-т. - Уфа, 2008. - 24 с.
Кл.слова (ненормированные):
ИССЛЕДОВАНИЕ СОСТОЯНИЙ -- ЖИДКИЕ СРЕДЫ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- ФАЗОВЫЕ СОСТОЯНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК -- ЖИДКИЕ КРИСТАЛЛЫ -- СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ -- НАНОРАЗМЕРЫ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ИНДИКАТОРЫ -- ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   62
   С 773

    Старостин, Виктор Васильевич.
    Материалы и методы нанотехнологии : учебное пособие / В. В. Старостин ; ред. Л. Н. Патрикеев. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2008. - 431 с. - (Нанотехнология). - Библиогр.: с. 424-426. - ISBN 978-5-94774-727-0 : 222.00 р., 222.00 р.

ГРНТИ	81.01
УДК	620.3(075.8)

Рубрики: Нанотехнология--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- ФУЛЛЕРЕНЫ -- УГЛЕРОДНЫЕ НАНОТРУБКИ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОСТРУКТУРЫ -- ЗОНДОВАЯ НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ

Доп.точки доступа:
Патрикеев, Л. Н. \ред.\
Экземпляры всего: 2
Х (1), ЧЗЕ (1)
Свободны: Х (1), ЧЗЕ (1)
Найти похожие

   1566990


    Кудрявцева, И. А.
    Математическое моделирование динамики двухкомпонентной плазмы с учетом столкновений заряженных частиц : автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.02.05 / И. А. Кудрявцева ; Моск. авиац. ин-т. - Москва, 2009. - 21 с.
Рубрики: Механика жидкости, газа и плазмы
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ (ФИЗИКА) -- НИЗКОТЕМПЕРАТУРНАЯ ПЛАЗМА -- ДВУХКОМПОНЕНТНАЯ ПЛАЗМА (ДИНАМИКА) -- ДИАГНОСТИКА ПЛАЗМЫ -- ЗОНДОВАЯ ДИАГНОСТИКА -- ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ (ФИЗИКА)

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   62
   С 741

    Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3 т. / Моск. гос. ин-т электрон. техники, Технолог. центр ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под ред. А. Н. Саурова. - [2-е изд., доп.]. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-261-8.
   Т. 2. - 2010. - 1039 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI.30). - Библиогр. в конце глав. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. 2) : 1100 р.

УДК

620.3(035.5)

Рубрики: Нанотехнологии--Справочники
Кл.слова (ненормированные):
ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- АСМ/ЛСМ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- НАНОТРИБОЛОГИЯ -- НАНОМЕХАНИКА -- НАНОИНДЕНТЕР -- НАНОРЕОЛОГИЯ -- АДГЕЗИЯ

Доп.точки доступа:
Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А. Н. \ред., пер.\; Московский государственный институт электронной техники. Технологический центр
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   535
   О-720

    Осадько, Игорь Сергеевич.
    Флуктуирующая флуоресценция наночастиц / И. С. Осадько. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2011. - 315, [1] с. : рис. ; 22 см. - Авт. на корешке не указан. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1339-7 (в пер.) : 300 р.

ГРНТИ	29.31.23	47.09.29
УДК	535.371-022.532	538.958-022.532

Рубрики: Флуоресценция флуктуирующая--Молекулы
Флуоресценция флуктуирующая--Полупроводниковые наноструктуры
Кл.слова (ненормированные):
ФЛУОРЕСЦЕНЦИЯ ОДИНОЧНЫХ НАНОЧАСТИЦ -- ФЛУОРЕСЦЕНЦИЯ МОЛЕКУЛ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ФОТОНЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ НАНОКРИСТАЛЛЫ -- НАНОКРИСТАЛЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВ

Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

   62
   С 741


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии / [Моск. гос. ун-т. Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям] ; под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван: науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Handbook of Microscopy for Nanotechnology. - 2005. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 2000 р.

ГРНТИ	81.09	29.35.43
УДК	620.3:537.533.35(035)

Рубрики: Нанотехнологии--Микроскопия электронная--Справочники
Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ -- АТОМНО-ЗОНДОВАЯ ТОМОГРАФИЯ -- ФОКУСИРОВАННЫЙ ИОННЫЙ ПУЧОК -- ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ ЛИТОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ НАНОКРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ГОЛОГРАФИЯ

Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Московский государственный университет. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

10.

   533
   Ш 670


    Школа по экспериментальной физике - 81. Свойства низкотемпературной плазмы : межвузовский сборник / ред.: С. А. Месяц, А. В. Курицын, Л. А. Панова. - Красноярск : Изд-во Краснояр. ун-та, 1983. - 192 с. : ил. ; 20 см. - Библиография: с. 189-191. - 500 экз. - 1.90 р.

ГРНТИ	29
УДК	533.9

Рубрики: Низкотемпературные плазмы--Физические свойства--Сборники
Кл.слова (ненормированные):
ТЕПЛОФИЗИКА -- ИНФРАКРАСНАЯ ДИАГНОСТИКА ПЛАЗМЫ -- ИК-ДИАГНОСТИКА -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ФИЗИКА ПЛАЗМЫ -- ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ -- ЗОНДОВАЯ ДИАГНОСТИКА

Доп.точки доступа:
Месяц, С. А. \ред.\; Курицын, А. В. \ред.\; Панова, Л. А. \ред.\; Местное (краевое) издание с краеведческим материалом.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

11.

   541
   Ф 894

    Фристром, Р. М.
    Структура пламени : перевод с английского / Р.М. Фристром, А.А. Вестенберг. - Москва : Металлургия, 1969. - 363 с. : граф., рис., табл., фот. - Библиогр. в конце ст. - (в пер.) : 1.74 р.

ГРНТИ	30.51.23
УДК	544.33

Рубрики: Термохимия
Кл.слова (ненормированные):
ГОРЕНИЯ -- МАКРОСКОПИЧЕСКОЕ -- МИКРОСТРУКТУРА -- ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ -- ИЗЛУЧЕНИЕ -- КИНЕТИКА -- ТЕРМОДИНАМИКА -- РАДИКАЛЫ -- ЛАМИНАРНОЕ -- АЭРОДИНАМИКА -- СКОРОСТЬ -- ТРУБКИ ПИТО -- ТЕМПЕРАТУРА -- ПИРОМЕТРИЯ -- ЗОНДОВАЯ -- РАДИАЦИОННАЯ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ -- УСТОЙЧИВЫЕ -- СОЕДИНЕНИЯ -- МАСС - СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ФОТОГРАФИРОВАНИЕ -- ПЕРЕНОС -- КОЭФФИЦИЕНТ ДИФФУЗИИ -- ТЕРМОДИФФУЗИЯ -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ -- АППРОКСИМАЦИЯ -- ЧИСЛО ЛЬЮИСА -- СТАЦИОНАРНАЯ

Доп.точки доступа:
Вестенберг, А.А.
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие

12.

   539
   К 260

    Карпасюк, Владимир Корнильевич.
    Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214 с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214. - ISBN 978-5-91910-342-4 : 190 р.

ГРНТИ	29	81.09
УДК	539.2	620.18](075.8)

Рубрики: Материалы--Исследование--Ионизирующих излучений метод
Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия -- нейтронография -- электронография -- растровая электронная микроскопия -- оптика пучков частиц -- рентгеноструктурный анализ -- микроскопия зондовая -- зондовая микроскопия -- физика конденсированного состояния

Доп.точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Экземпляры всего: 1
АБУ (1)
Свободны: АБУ (1)
Найти похожие

13.

26894

Неволин, В. К.
Зондовые нанотехнологии в электронике [Текст] / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.

Перейти: Перейти к просмотру издания
Свободных экз. нет
Найти похожие

14.

29567

Свириденок, А. И.
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И. - Минск : Белорусская наука, 2014. - 188 с. - ISBN 978-985-08-1775-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.

УДК

53.086

ББК 22.338я43

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования.

Перейти: Перейти к просмотру издания

Доп.точки доступа:
Суханова, Т. Е.; Вылегжанина, М. Э.; Сантурян, Ю. Г.; Волков, А. Я.; Кутин, А. А.; Гофман, И. В.; Панарин, Е. Ф.; Толстихина, А. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Белугина, Н. В.; Трушин, О. С.; Куприянов, А. В.; Амиров, И. И.; Dzieciol, A.; Stelmachowski, J.; Nazaruk, P.; Rymuza, Z.; Abetkovskaia, S.; Pogotskaya, I.; Chizhik, S. A.; Баран, Л. В.; Ануфрик, С. С.; Игнатовский, М. И.; Сазонко, Г. Г.; Тарковский, В. В.; Кузнецова, Т. А.; Чижик, С. А.; Кравчук, А. С.; Ширяева, Т. И.; Судиловская, К. А.; Муравьева, Т. И.; Столярова, О. О.; Сачек, Б. Я.; Мезрин, А. М.; Загорский, Д. Л.; Сильванович, Д. А.; Ташлыков, И. С.; Белов, Н. А.; Ташлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Куликаускас, В. С.; Барайшук, С. М.; Шепелевич, В. Г.; Чумаков, А. С.; Горбачев, И. А.; Ермаков, А. В.; Ким, В. П.; Глуховской, Е. Г.; Башкиров, С. А.; Vylegzhanina, M. E.; Sukhanova, T. E.; Volkov, A. Ya.; Subbotina, L. I.; Svetlichnyi, V. M.; Губанова, Г. Н.; Кононова, С. В.; Лаврентьев, В. К.; Красковский, А. Н.; Гилевская, К. С.; Скопцов, Е. А.; Грачева, Е. А.; Куликовская, В. И.; Binhussain, M. A. A.; Мельникова, Г. Б.; Парибок, И. В.; Агабеков, В. Е.; Потапов, А. Л.; Иванова, Н. А.; Дайнеко, О. А.; Бен-Хусаин, М.; Карев, Б. Д.; Карев, Д. Б.; Константинова, Е. Э.; Цапаева, Н. Л.; Дрозд, Е. С.; Кужель, Н. С.; Мычко, М. Е.; Спиридонова, О. С.; Kukharenko, L. V.; Schimmel, Th.; Fuchs, H.; Barczewski, M.; Shman, T. V.; Tarasova, A. V.; Никитина, И. А.; Стародубцева, М. Н.; Грицук, А. И.; Стародубцев, И. Е.; Егоренков, Н. И.; Абетковская, С. О.; Лактюшина, Т. В.; Чикунов, В. В.; Билоконь, С. А.; Бондаренко, М. А.; Андриенко, В. А.; Бондаренко, Ю. Ю.; Яценко, И. В.; Брич, М. А.; Айзикович, С. М.; Кренев, Л. И.; Ханукаева, Д. Ю.; Калинин, С. В.; Филиппов, А. Н.; Иевлев, А. В.; Бузилов, А. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

15.

   62
   Н 254


    Нанотехнологии в микроэлектронике : научное издание / Юж. федер. ун-т, Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения ; ред.: О. А. Агеев, Б. Г. Коноплева. - Москва : Наука, 2019. - 511 с. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-02-040201-0 : 613.20 р.

ГРНТИ	47
УДК	620.3

Рубрики: Радиоэлектронная аппаратура
Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника -- нанотехнологии в микрорэлектронике -- нанотрубки -- нанодиагностика -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- микроскопия зондовая -- нанолитография зондовая -- ионные пучки -- электронно-лучевая обработка

Доп.точки доступа:
Агеев, О. А. \ред.\; Коноплева, Б. Г. \ред.\; Южный федеральный университет; Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения
Экземпляры всего: 1
АБН (1)
Свободны: АБН (1)
Найти похожие

16.

    Шеин, Анатолий Борисович.
    Физические методы исследования. Металлография, микроскопия, электронная спектроскопия [Электронный ресурс] : учебное пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров «Химия», «Химия, физика и механика материалов» и по специальности «Фундаментальная и прикладная химия» / А. Б. Шеин, А. Л. Габов ; М-во науки и высш. образования РФ, Перм. гос. нац. исслед. ун-т. - Электрон. дан. (6,23 Мб). - Пермь : ПГНИУ, 2023. - 168 с. - Библиогр.: с. 165-167. - ISBN 978-5-7944-4034-8 : 0.00

ГРНТИ	31.19
УДК	543.4(075.8)

Рубрики: Аналитическая химия--Физические методы исследования--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОГРАФИЯ -- МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ (ИССЛЕДОВАНИЯ)

Перейти: Полный текст

Доп.точки доступа:
Габов, Андрей Львович; Министерство науки и высшего образования Российской ФедерацииПермский государственный национальный исследовательский университет
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 08.07.2024
Число запросов	69997
Число посетителей	579
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)