Главная Упрощенный режим

Базы данных


Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды учёных ПГНИУ (24)Журналы (1)Рациональное природопользование (3)Библиотека юридичеcкого факультета (статьи) (4)Продолжающиеся издания (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 52
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-52 
1.
69545

    Филимонова, Н. И.
    Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

Перейти: Перейти к просмотру издания

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
18391

    Белихов, А. Б.
    Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

Перейти: Перейти к просмотру издания

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
63529

    Лыгина, Т. З.
    Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Лыгина Т. З. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009. - 79 с. - ISBN 978-5-7882-0682-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
УДК
ББК 24.4

Кл.слова (ненормированные):
адсорбционный метод -- инфракрасная спектроскопия -- минеральный сорбент -- порометрия -- термический анализ -- фазовый анализ -- химический анализ -- электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».

Перейти: Перейти к просмотру издания

Доп.точки доступа:
Михайлова, О. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
   621.7
   Б 447


   Беляевский, Александр Трифонович

    Электронометрия морфологии частиц порошковых материалов в 2 книгах : [учебное пособие] / А. Т. Беляевский. - СПб. : ПластПринт, 2007 - .
   Ч. 2 : Экологические аспекты микрофотомониторинговой информации (SEM/REM диагностики физико-химии гетерогенных дисперсных систем). - 2007. - 170 с. : ил. - Библиогр.: с. 166-168. - 90 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Порошковая металлургия--Учебные издания для высших учебных заведений
   Контроль качества среды--Учебные издания для высших учебных заведений

Кл.слова (ненормированные):
ПОРОШКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОНОМЕТРИЯ -- МОНИТОРИНГ КАЧЕСТВА ПРИРОДНОЙ СРЕДЫ -- АНТРОПОГЕННЫЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ -- ЗАГРЯЗНЕНИЯ ОКРУЖАЮЩЕЙ СРЕДЫ


Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Кольский научный центр; Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И. В. Тананаева
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
5.
   576.8
   В 526


    Вирусология [Текст] / Государственный комитет Совета министров СССР по науке и технике, Академия наук СССР, Всесоюзный институт научной и технической информации; ред. А. А. Ничипорович. - Москва : ВИНИТИ, 1972 - .
   Т. 9 : Электронная микроскопия вирусов и вирусных инфекций / ред. М. Б. Королев. - 1980. - 160 с. - (Итоги науки и техники). - Библиогр. в конце ст. - 1.20 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Паразитология
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- вирусная инфекция -- вирусы


Доп.точки доступа:
Ничипорович, А. А. \ред.\; Королев, М. Б. \ред.\; Государственный комитет Совета министров СССР по науке и технике; Академия наук СССРВсесоюзный институт научной и технической информации
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
6.
   621.7
   Б 447


   Беляевский, Александр Трифонович

    Электронометрия морфологии частиц порошковых материалов в 2 книгах : [учебное пособие] / А. Т. Беляевский. - СПб. : ПластПринт, 2007 - .
   Ч. 1 : Частица, как носитель полисемантики морфологических характеристик порошковых материалов (фактографический материал РЭМ- и SEM-исследований с аудиальным содержанием). - 2007. - 150 с. : ил. - Библиогр.: с. 148-150. - 80 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Порошковая металлургия--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
ПОРОШКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОНОМЕТРИЯ


Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Кольский научный центр; Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И. В. Тананаева
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
7.
   016:58
   Э 455


    Электронная микроскопия растительных клеток и тканей : библиографический указатель / ред. Б. Т. Матиенко. - Кишинев : Штиница, 1975 - 1977.
   Ч. 1 : 1948-1962. - 1975. - 364 с. - ). - 1.09 р.
УДК
Рубрики: Биология--Библиография
Кл.слова (ненормированные):
растительные клетки -- электронная микроскопия


Доп.точки доступа:
Матиенко, Борис Тимофеевич \ред.\
Экземпляры всего: 1
НБО (1)
Свободны: НБО (1)
Найти похожие
8.
   016:58
   Э 455


    Электронная микроскопия растительных клеток и тканей : библиографический указатель / ред. Б. Т. Матиенко. - Кишинев : Штиница, 1975 - 1977.
   Ч. 2 : 1963-1966. - 1977. - 356 с. - ). - 0.81 р.
УДК
Рубрики: Биология--Библиография
Кл.слова (ненормированные):
растительные клетки -- электронная микроскопия


Доп.точки доступа:
Матиенко, Борис Тимофеевич \ред.\
Экземпляры всего: 1
НБО (1)
Свободны: НБО (1)
Найти похожие
9.
   537
   Ш 615


    Шиммель, Г..
    Методика электронной микроскопии : Elektronenmikroskopische Methodik : пер. с нем. / Г. Шиммель, G. Schimmel ; пер.: А. М. Розенфельд, М. Н. Спасский ; ред. В. Н. Рожанский. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Библиогр.: с. 285 - 292. - Указ.:с.293-297. - 1.62 р., 1.62 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА -- ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ


Доп.точки доступа:
Schimmel, G.; Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, М. Н. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред.\
Экземпляры всего: 2
Х (1), АБН (1)
Свободны: Х (1), АБН (1)
Найти похожие
10.
   537
   Э 455


   
    Электронная микроскопия твердых тел и биологических объектов. Приборы, методы исследования, результаты применения. Материалы Шестой Всесоюзной конференции по электронной микроскопии. Новосибирск, июль 1967 год / АН СССР ; ред. Б. К. Вайнштейн. - Москва : Наука , 1969. - 375 с. : ил. - Имен. указ.: с. 369 -373. - 2.28 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Электронная микроскопия
Дескрипторы: Электронная микроскопия


Доп.точки доступа:
Вайнштейн, Б. К. \ред.\; Академия наук СССР
Экземпляры всего: 1
Х (1)
Свободны: Х (1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-52 
 
Статистика
за 18.08.2024
Число запросов 8624
Число посетителей 347
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)