Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 194
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Теппер Е. З. Практикум по микробиологии/Е. З. Теппер, В. К. Шильникова, Г. И. Переверзева ; ред. В. К. Шильникова. - 2004
|
2.
| Нолтинг Б. Мир биологии и медицины : Новейшие методы исследования биосистем/пер. с англ. Н. Н. Хромова-Борисова. - 2005
|
3.
| Рыков С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур/С. А. Рыков ; ред.: В. И. Ильин, А. Я. Шик. - 2001
|
4.
| Дюков Растровая оптическая микроскопия/Валентин Георгиевич Дюков, Юрий Алексеевич Кудеяров. - 1992
|
5.
| Маев Р. Г. Акустическая микроскопия/Р. Г. Маев. - 2005
|
6.
| Световая микроскопия в биологии.Методы/Под ред.А.Лейси. - 1992
|
7.
| Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров/Под ред.И.В.Яминского. - 1997
|
8.
| Пантелеев В. Компьютерная микроскопия/В. Пантелеев, О Егорова, Е. Клыкова. - 2005
|
9.
| Шеин А. Б. Спектроскопические методы анализа поверхности твердых тел (теория)/А. Б. Шеин. - 2007
|
10.
| Нанотехнологии в электронике/ред. Ю. А. Чаплыгин. - 2005
|
11.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан ; пер.: С. Л. Баженов, О. В. Егорова. - 2006
|
12.
| Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Л. Миронов. - 2005
|
13.
| Синдо Д. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия/Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. С. А. Иванов. - 2006
|
14.
| Компьютерная микроскопия/Федеральное агентство по образованию, Пермский государственный университет. - 2007
|
15.
| Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов/Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт. - 2007
|
16.
| Беляевский, Александр Трифонович Электронометрия морфологии частиц порошковых материалов в 2 книгах. Ч. 2:Экологические аспекты микрофотомониторинговой информации (SEM/REM диагностики физико-химии гетерогенных дисперсных систем). - 2007
|
17.
| Беляевский, Александр Трифонович Электронометрия морфологии частиц порошковых материалов в 2 книгах. Ч. 1:Частица, как носитель полисемантики морфологических характеристик порошковых материалов (фактографический материал РЭМ- и SEM-исследований с аудиальным содержанием). - 2007
|
18.
| Введение в физику поверхности/К. Оура [и др.] ; ред. В. И. Сергиенко. - 2006
|
19.
| Гирфанова Ф. М. Исследование термодинамически стабильных состояний в тонких пленках нематического жидкого кристалла методом атомно-силовой микроскопии/Ф. М. Гирфанова. - 2007
|
20.
| Бушнев Л. С. Основы электронной микроскопии/Л. С. Бушнев, Ю. Р. Колобов, М. М. Мышляев. - 1990
|
|
|
|
Главная
Основная библиотечная БД
Стандартный