Научная Библиотека Пермского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Базы данных

Основная библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Основная библиотечная БД

Труды учёных ПГНИУ

Диссертации

Журналы

Рациональное природопользование

Иностранная периодика

Дореволюционная периодика

Библиотека юридичеcкого факультета (статьи)

Туризм

История Пермского университета

Продолжающиеся издания

Музейный книжный фонд

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/Р 397
Заглавие : Рентгеновские лучи : пер. с англ.
Параллельн. заглавия :Rontgenstrahlen = X-Rays
Выходные данные : Москва: Иностранная литература, 1960
Колич.характеристики :468 с.: рис., табл.
Цена : 28.75 р.
ГРНТИ : 29
УДК : 537.531
Предметные рубрики: Электромагнитное излучение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская трубка--ионные трубки--электронные трубки--импульсные трубки--рентгеновская спектроскопия--спектрографы--спектрометры--рентгеновская микроскопия
Экземпляры :Х(1)
Свободны : Х(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61986
Автор(ы) : Вознесенский Э. Ф.
Заглавие : Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014
Колич.характеристики :184 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1545-7: Б.ц.
УДК : 537.533
ББК : 22.33я7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материала--метод исследования--метод микроскопии--рентгеновская микроскопия--структурное исследование--томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Перейти: Перейти к просмотру издания
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 07.07.2024
Число запросов	6949
Число посетителей	370
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)