Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.396/Н 480 Автор(ы) : Некрасов, Михаил Макарович, Платонов, Виталий Васильевич, Дадеко, Людмила Ивановна Заглавие : Испытания элементов радиоэлектронной аппаратуры. Физические методы надежности : справочное пособие Выходные данные : Киев: Вища школа, 1981 Колич.характеристики :304 с.: ил. Примечания : Библиогр.: с. 294-299 Цена : 1.20 р. ГРНТИ : 47 УДК : 621.396.6(083) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная техника--пробой материалов--разрушение материалов--старение материалов--надежность микросхем Экземпляры :Х(1) Свободны : Х(1) Доп.точки доступа: Платонов, Виталий Васильевич; Дадеко, Людмила Ивановна; Некрасов, Михаил Макарович \ред.\