62 Г 481 Гимельфарб, Феликс Аронович. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов / Ф. А. Гимельфарб. - М. : Металлургия, 1986. - 152 с. : ил ; 21 см. - Библиогр.: с. 149-152. - 0.55 р.
Кл.слова (ненормированные): материалы композиционные -- рентгеноспектральный анализ -- композиты слоистые Аннотация: Изложены основные особенности количественного рентгеноспектрального микроанализа слоистых материалов. Показано влияние гетерограницы на результаты локального анализа, способы измерений и обработки информации для получения правильных результатов и возможности автоматизации и компьютеризации измерений. Приведены конкретные примеры микрозондового контроля полупроводниковых гетероструктур и интегральных схем, поверхностных слоев металлов и защитных покрытий на металлах, ионнолегированных материалов и других слоистых композитов. Книга предназначена для инженерно-технических работников и специалистов, занимающихся металлургией, металловедением, микроэлектроникой, аналитической химией, и работников различных областей новой техники, связанных с получением, применением или контролем современных материалов. Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |