1422287         Каданцев, А. В.     Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников : автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / А. В. Каданцев. - Воронеж, 2006. - 18 с. Кл.слова (ненормированные): Физика полупроводников -- Дефекты с глубокими уровнями в многослойных структурах -- Металл-проводник Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1)