537 Х 358 Хейденрайх, Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии / Р. Хейденрайх ; пер. с англ. [и предисл.] В. М. Кардонского и А. Г. Хачатуряна. - Москва : Мир, 1966. - 471 с. : рис., табл., фот. - Библиогр.: с. 466-468. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamentals of transmission electron microscopy / Robert D. Heidenreich. - New York, 1964. - 2.11 р. Содержание: Идеальные, или гауссовы, изображения Численные значения сечений рассеяния Исследование тонких структур с деталями крупнее 10 A Волны и интерференция Волновая механика и формирование изображения Коллективное возбуждение и энергетические потери в твердых телах Введение в дифракцию электронов Интенсивность дифракции Дифракционный контраст Качество изображения и разрешение Изображения отклоняющих полей Электронно-зондовый микроанализ Общие функции для интерференционных расчетов Аберрация линз и фаза дефокусировки Элементы кристаллографии пример из динамической трехволновой теории Определение вектора Бюргерса Дифракционные эффекты в толстых кристаллах Преимущественные ориентировки (текстуры)
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Кардонский, В. М. \пер.\; Хачатурян, А. Г. \пер.\; Heidenreich, Robert D. Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |