621.38 В 26 Ведерников, В. В. Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов : материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. изделий / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, А. А. Чернышев. - М. : Знание, 1977 - . Вып.2. - 1977. - 44 с. - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): Полупроводниковые приборы (надежность) Доп.точки доступа: Ведерников, В. В.; Горюнов, Н. Н.; Чернышев, А. А. Экземпляры всего: 1 Х (1) Свободны: Х (1) |